產(chǎn)品介紹

Thermo Scientific Scios 2 DualBeam是一款超高分辨率分析系統(tǒng)，可為的廣泛類型的樣品，包括磁性和不導電材料提供出色的樣品制備和三維表征性能。 Scios 2 DualBeam系統(tǒng)創(chuàng)新性的功能設計，優(yōu)化了樣品處理能力、分析精度和易用性，是滿足科學家和工程師在學術和工業(yè)環(huán)境中進行高級研究和分析的理想解決方案。

Scios 2 DualBeam超高分辨率分析系統(tǒng)可快速輕松的定位制備各類材料的高分辨S/TEM樣品。系統(tǒng)配備Thermo Scientific Auto Slice&View軟件，可以高質(zhì)量、全自動地采集多種三維信息。無論是在STEM模式下以30kV來獲取結構信息，還是在較低的能量下從樣品表面獲取無荷電信息，系統(tǒng)可在廣泛的工作條件下提供出色的納米級細節(jié)。Scios 2 DualBeam可幫助所有經(jīng)驗水平的用戶更快、更輕松的獲得高質(zhì)量、可重復的結果，此外，系統(tǒng)專為材料科學中具挑戰(zhàn)的材料微觀表征需求而設計，配備了全集成化、極快速MEMS熱臺，可在更接近真實環(huán)境的工作條件下進行樣品表征。

☆ 使用Sidewinder HT離子鏡筒快速、簡便地制備高質(zhì)量、定位TEM和原子探針樣品；

☆ Thermo Scientific NICol 電子鏡筒可進行超高分辨成像，滿足廣泛類型樣品的成像需求；
☆ 各類集成化鏡筒內(nèi)及極靴下探測器，采集優(yōu)質(zhì)、銳利、無荷電圖像，提供完整的樣品信息；
☆ 高度靈活的110mm樣品臺和內(nèi)置的Thermo Scientific Nav-Cam相機實現(xiàn)樣品導航；
☆ DCFI、漂移抑制技術和Thermo Scientific SmartScan等模式實現(xiàn)無偽影成像和圖形加工；
☆ 靈活的DualBeam配置，優(yōu)化解決方案滿足特定應用需求。

發(fā)射源：高穩(wěn)定型肖特基場發(fā)射電子槍

分辨率：
☆工作距離下1.4nm（1keV）
電子束參數(shù)：
☆探針電流范圍：1pA – 400nA
☆加速電壓范圍：200V ~ 30kV
☆著陸電壓范圍：20eV ~ 30keV
☆導航蒙太奇功能，可額外增大視場寬度
離子光學：
大束流Sidewinder離子鏡筒
加速電壓范圍：500v-30kv
離子束流范圍：1.5pA-65nA
15孔光闌
不導電樣品漂移抑制模式
離子源壽命至少1000h
離子束分辨率30kv下3.0nm
樣品室：
☆電子束和離子束重合點在分析工作距離處（SEM7mm）
☆端口：21個
☆內(nèi)寬：379mm
樣品臺：靈活五軸電動樣品臺
☆XY范圍：110mm
☆Z范圍：65mm
☆旋轉：360° 連續(xù)
☆傾斜：-15°到+90°
☆大樣品尺寸，直徑110mm，可沿X、Y軸*旋轉時
☆大樣品高度，與優(yōu)中心點間隔為85mm
☆大樣品質(zhì)量 5 kg（包括樣品托）
☆同心旋轉和傾斜
樣品托：
☆標準多功能樣品托，以*方式直接安裝到樣品臺上，可容納18個標準樣品托架（φ12mm）、3個預傾斜樣品托、2個垂直和2個預傾斜側排托架（38°和90°），樣品安裝無需工具
探測器系統(tǒng)：可同步檢測多達4中信號
☆樣品室二次電子探測器ETD
☆鏡筒內(nèi)背散射電子探測器T1
☆鏡筒內(nèi)二次電子探測器T2
☆鏡筒內(nèi)二次電子探測器T3（可升級）
☆ IR-CCD紅外相機（觀察樣品臺高度）
☆ 可用于圖像導航的彩色光學相機Nav-Cam+™
☆ 高性能離子轉換和電子探測器ICE
☆ 可伸縮式低電壓、高襯度、分割式固態(tài)背散射探測器DBS
☆ 電子束流測量
控制系統(tǒng)：
☆ 64 操作系統(tǒng)、鍵盤、光學鼠標
☆ 圖像顯示：24寸LCD顯示器，顯示分辨率1920×1200
☆ 支持用戶自定義的GUI，可同時實時顯示4幅圖像
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